X線タルボ・ロー撮影装置の概要

X線タルボ・ロー撮影装置はタルボ・ロー⼲渉原理を利⽤したX線⼲渉撮影装置で、X線が撮影対象を通過する際に⽣じる、
減衰、屈折、散乱を画像化しています。これにより従来⾒ることのできなかった軽元素や数μmオーダーの散乱物群を可視化します。

X線タルボ・ロー撮影装置はタルボ・ロー⼲渉原理を利⽤したX線⼲渉撮影装置で、X線が撮影対象を通過する際に⽣じる、減衰、屈折、散乱を画像化しています。これにより従来⾒ることのできなかった軽元素や数μmオーダーの散乱物群を可視化します。

装置構成と撮影原理

本装置はX線管と画像検出器の間にG0、G1、G2の3枚の格⼦を配置して構成しています。G0格⼦はX線の⼲渉性を⾼め、⼲渉性の⾼まったX線がG1格⼦に当たると、⼲渉を起こしG2格⼦の位置に⼲渉像を結びます。この⼲渉像が被写体の有る/無しで変化し、その差を検出、演算し、吸収画像、微分位相画像、⼩⾓散乱画像を作成しています。

3画像の特長

作成された吸収画像、微分位相画像、⼩⾓散乱画像は次の様な特長を有します。吸収画像はX線吸収の⼤きい⾦属異物などの検出に優れます。微分位相画像は微⼩な屈折⾓を画像化する事で、⾼分⼦や炭素繊維など軽元素の描写性に優れた画像です。⼩⾓散乱画像は画素サイズより⼩さい数μmの粒⼦群や数μmの繊維の束を画像にすることが可能です。